Междисциплинарный ресурсный центр коллективного пользования
"Современные физико-химические методы формирования и исследования материалов для нужд промышленности, науки и образования"

| Оборудование | Работы | Сотрудники | Публикации |

Центр базируется на факультетах:

Физики

Географии

Химии


РГПУ им. А.И.Герцена

Растровый электронный микроскоп EVO-40

Растровый электронный микроскоп EVO-40 позволяет проводить комплексные исследования морфологии, элементного состава, проводящих и низкопроводящих мишеней с разрешением от 2 нм.

Комплектация микроскопа позволяет исследовать изображения мишеней в режимах анализа вторичных электронов в диапазоне энергий первичных электронов 0.1-30 кэВ; в режиме анализа обратно отраженных электронов в диапазоне энергий 3-30 кэВ в условиях высокого вакуума ~10-7-10-8 торр.

Локальный элементный анализ с пространственным разрешением ~100 нм обеспечивается энергодисперсионным анализатором с разрешением ΔE<100 для элементов от Li до U.

Уникальный термостолик обеспечивает измерения в диапазоне температур 20-500 °C.

Для измерения диэлектрических, биологических объектов предусмотрен режим низкого вакуума.

Для исследования кристаллической структуры микроскоп оснащен Дифрактометрическим модуль для растрового электронного микроскопа EVO 40 EBSD-120404-SPB-1 (Carl Zeiss)

Для расширения возможностей микроскопа в его комплектацию добавлена Система плазменной очистки 25 Zephyr (Oxford Instruments) для камеры электронного микроскопа EVO.

Работу электронного микроскопа обеспечивают три сертифицированных специалиста.

Год выпуска: 2008