Спектрометр предназначен для исследования диэлектрических и электропроводящих свойств материалов в широком диапазоне частот и температур. 

Области применения: физика, химия, геология, материало-ведение, экология, биология, медицина.

Материалы: керамики, полимеры, стекла, жидкие кристаллы, полупроводники, биологические системы.

Измерительный модуль для исследования диэлектрических и электропроводящих свойств в области высоких частот (на базе анализатора импеданса HP 4291B)

Назначение оборудования: модуль предназначен для исследования диэлектрических и электропроводящих свойств материалов в широком диапазоне температур в области высоких частот.

Спектральный эллипсометр «ЭЛЬФ»

Назначение оборудования • Измерение толщин пленок и толщин слоев в тонкопленочных структурах (металлы, полупроводники и диэлектрики, как твердые, так и жидкие пленки).

• Измерение оптических констант образцов (металлы, полупроводники и диэлектрики, как твердые, так и жидкие среды). 

• Исследование структуры материалов (состав, неравномерность пространственного распределения, пористость, степень кристалличности и др.).

• Характеризация поверхности (наличие поверхностных слоев, нанометрическая шероховатость поверхности и др.).